|薄膜高度差扫描_胶水点胶立仪科技 - 深圳立仪科技有限公司
Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd
2024-08-19
01|检测需求:扫描薄膜圆圈的高度差
02|检测方式
客户要求扫描薄膜圆圈的高度差,根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量
03|光谱共焦测量结果
薄膜圆圈的高度差轮廓
04|光谱共焦侧头
D40A30侧头相关参数
05|H系列控制器
H系列控制器相关参数